膜厚儀在不同環(huán)境下影響要素有哪些

1、基體金屬磁性質(zhì)

磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性改變的影響(在實(shí)際使用中，低碳鋼磁性的改變能夠認(rèn)為是輕的)，為了防止熱處理和冷加工要素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的規(guī)范片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn);亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。

2、基體金屬電性質(zhì)

基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)丈量有影響，而基體金屬的電導(dǎo)率與其資料成分及熱處理辦法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的規(guī)范片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。

3、基體金屬厚度

每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度，丈量就不受基體金屬厚度的影響。

4、邊際效應(yīng)

本儀器對(duì)試件外表形狀的陡變靈敏。因而在靠近試件邊際或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行丈量是不牢靠的。

5、曲率

試件的曲率對(duì)丈量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的削減明顯地增大。因而，在彎曲試件的外表上丈量是不牢靠的。

6、試件的變形

丈量頭會(huì)使軟覆蓋層試件變形，因而在這些試件上測(cè)出牢靠的數(shù)據(jù)。

7、外表粗糙度

基體金屬和覆蓋層的外表粗糙程度對(duì)丈量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙外表會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次丈量時(shí)，在不同方位上應(yīng)添加丈量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還有必要在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個(gè)方位校對(duì)儀器的零點(diǎn);或用對(duì)基體金屬?zèng)]有腐蝕的溶液溶解除掉覆蓋層后，再校對(duì)儀器的零點(diǎn)。

8、磁場

周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場，會(huì)嚴(yán)重地?cái)嚁_磁性法測(cè)厚工作。

9、附著物質(zhì)

本儀器對(duì)那些妨礙丈量頭與覆蓋層外表緊密觸摸的附著物質(zhì)靈敏，因而，有必要鏟除附著物質(zhì)，以保證儀器丈量頭和被測(cè)試件外表直觸摸摸。

10、丈量頭壓力

丈量頭置于試件上所施加的壓力大小會(huì)影響丈量的讀數(shù)，因而，要堅(jiān)持壓力恒定。

11、丈量頭的取向

丈量頭的放置方式對(duì)丈量有影響。在丈量中，應(yīng)當(dāng)使丈量頭與試樣外表堅(jiān)持垂直。

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